低成本X射线测厚仪镀层测厚仪厂家找厦门普瑞盛公司05925701968

产地

德国

德国

测量元素范围

Ti²²---U⁹²

镀层和成分分析

镀层：最多同时测定5层（4层镀层+基体材料）

成分：最多同时测量20种元素

测量方法

FP（经验数据法），无需标准样片

X射线激发

50Kv、1.2mA(60W)高压发生器

微聚焦W靶X射线管

成像系统

彩视频系统

20倍放大倍数

被测样品图像实时显示功能

 电脑显示屏具有画中画功能

计算机系统

Inter Pentium G2030，内存2G，硬盘500G

17吋液晶彩色显示器

Microsoft^TM Win7

32bit

样品台规格

X-Y手动样品台：600×600mm，最承重25Kg，最样品高度175mm或350mm可调

X-Y程控样品台：X-Y台面尺寸300×250mm，最承重5Kg，最样品高度180mm，程控距离X=300mm、Y=250mm

仪器外形

长×宽×高700×770×700mm（不含电脑、显示器）

最样品

X-Y手动样品台：长×宽×高600×500×350mm

X-Y程控样品台：长×宽×高600×500×180mm

程控Z轴移动距离

≤180mm，可使用鼠标或手柄控制

主机重量

90Kg（不含电脑、显示器）

准直器规格

可选单准直器、多准直器

多准直器程控交换

可选园形、矩形准直器

单准直器任选：?0.2、?0.3、?0.5、0.1×0.3mm

多准直器选项：①?0.2、0.06×0.06、0.05×0.15、0.1×0.2mm；②?0.1、?0.20、0.06×0.06、0.05×0.15mm

可选单准直器、多准直器

多准直器程控交换

可选园形、矩形准直器

单准直器任选：?0.3、?0.4、?0.5、0.2×0.5mm

多准直器：?0.3、?0.5、0.1×0.7、0.2×0.7mm

探测器

正比例计数器

25mm²半导体（Si-PIN）探测器，Peltier电制冷

软件模块可选

μ-Master用于镀层测量

Element--Master用于材料分析

%-Master用于材料分析（珠宝）

Report-Master用于微软报告文件

Data-Master用于数据库管理

Liquid-Master用于电镀液分析