HAST老化测试箱

产品用途 该试验的目的是提高环境应力（如：温度）与工作应力（施加给产品的电压、负荷等），加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件，和机械零件的磨耗和使用寿命的问题，使用寿命的障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验HAST试验箱广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验。 HAST试验箱--结构特点 设备特点： 1、HAST老化试验箱采用最新优化设计，美观大方，做工精细； 2、对应IEC60068-2-66条件，具有直接测量箱内温湿度的干、湿球温度传感器； 3、采用7寸真彩式触摸屏，拥有250组125000段程序，具有USB曲线数据下载功能，RS-485通讯接口；