超优惠的HAT寿命试验箱供应信息——HAT寿命试验箱报价 |
超优惠的HAT寿命试验箱供应信息——HAT寿命试验箱报价
产品用途 主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿着胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板、多层线路板、IC、LCD、磁性材料、高分子材料、EVA材料、光伏组件等产品之密封性能的检测，测试其制品的耐压性、气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力（如：温度）与工作应力（施加给产品的电压、负荷等），加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。 HAST寿命试验箱广泛应用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验。
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| 重量 | 120~320Kg |
|---|---|
| 生产地址 | 江苏省无锡新吴区梅村新锦路101号7号厂房 |
| 服务地区 | 全国 |
| 材质 | 不锈钢;橡胶;玻璃;槽钢;岩棉 |
| 售后服务 | 免费产品信息咨询 |
| 售后维修地区 | 全国 |
| 适用行业 | 应用于线路板、多层线路板、IC、LCD、磁性材料、高分子材料、EVA材料、光伏组件等产品 |
无锡索亚特试验设备有限公司自1998-10-01创立至今，规模从小到大，凭着过硬的技术、丰富的经验，优质的服务和良好的信誉，不断的发展壮大。在短时间内完成了企业创建、完善、发展过程，HAT寿命试验箱产品已经销售到全国市场。欢迎各界人士前来洽谈，联系人：于梅娟，联系电话：15951581698
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